| 是否进口：否 | 加工定制：否 | 类型：无损探伤仪 |
| 品牌：美国磁通 | 型号：QQI |
符合规范
ASME BPVC
ASTM E709
ASTM E1444
件号: （每个包装内包含一套5个QQI试片）
631590: 标准QQI试片 #KSC-230
人工缺陷呈基圆和十字交叉条形，适用于纵向和周向磁场。缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.002英寸 (0.05毫米)。
631592: 小型QQ I试片 #KSC-4-230
与KSC-230相似，专用于工件上的小区域，每片上四个圆，可切割开，单独使用。缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.002英寸 (0.05毫米)。
631591: 标准QQI试片 #KSC-430
人工缺陷呈基圆和十字交叉条形，适用于纵向和周向磁场。缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.004英寸 (0.1毫米)。
